Send til en ven   Udskriv19/1 2012 kl. 13:47
Send til en ven

Seminar om komponentkarakterisering

Nortelco Electronics afholder i samarbejde med Keithley Instruments et seminar om målemetoder til karakterisering af elektronikkomponenter og materialer.

'Praktisk målemetoder til karakterisering af nutidens elektroniske komponenter og materialer' er titlen på et arrangement, som Nortelco Electronics og Keithley Instruments afholder den 2. februar på DTU Risø.

På seminaret vil der blive introduceret en bred vifte af præcisionselektronik, semiconductor karakteriseringsteknikker og teknikker til pålidelighedmålinger, inkl. applikationer, standarder, nye udviklinger, nyskabelser og tendenser.

Agendaen for seminaret er som følger:
• IV karakteriseringsmetoder, herunder: principper for SourceMeasure enheder, fra en enkelt kanal til flerkanals komplekse testsystemer, fra meget lavt strømforbrugskomponenter i nano / mikro skala til høj effekt (op til 100A)


• Pulserende IV, herunder: Ultra Fast IV puls teknikker til nano / mikro skala komponenter, og også High Power komponenter som High Brightness lysdioder, galliumnitrid og Silicon Carbide strøm komponenter mv

• Anvendelsesudfordringer - hvilke faktorer påvirker nøjagtighed og repetérbarhed, og hvad kan der gøres for at forbedre målingerne, termiske påvirkninger, testtider, små strømme / lav modstand / høj modstand, lav og høj effekt komponenter.

• Det vil også blive diskuteret, hvordan man får man det bedste ud af instrumenteringen.

Tilmelding: Tommi Sørensen (tommi.soerensen@nortelco.dk) eller tlf. 48 17 75 00

Relaterede nyheder
Elektronik & Data • Odsgard A/S • Stationsparken 25 • 2600 Glostrup • Tlf: +45 4345 1063